德國EPK涂鍍層測厚儀4100
已經(jīng)停產(chǎn)，升級版：MINITEST4500
特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest4100 已經(jīng)停產(chǎn)，升級版：MINITEST4500
可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
N兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭量程低端
分辨率誤差最小曲率
半徑(凸/凹)最小測量
區(qū)域直徑最小基
體厚度探頭尺寸F050-500μm0.1μm±(1%+0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mmF1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x170mmF30-3000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF100-10mm5μm±(1%+10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mmF200-20mm10μm±(1%+10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mmF500-50mm10μm±(3%+50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mmN020-200μm0.1μm±(1%+0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mmN.08Cr0-80μm0.1μm±(1%+1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mmN1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mmN1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x170mmN100-10mm10μm±(1%+25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mmN200-20mm10μm±(1%+50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mmN1000-100mm100μm±(1%+0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mmCN0210-200μm0.2μm±(1%+1μm)平面7mm無限制φ17x80mmFN1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF：0.5mm
N：50μmφ15x62mmFN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面30mmF：0.5mm
N：50μmφ21x89mmFN20-2000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF：0.5mm
N：50μmφ15x62mm
注：F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
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