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X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。
儀器技術(shù)參數(shù)
小角衍射小角可以達(dá)到0.4度，主要測量介孔材料和其他高分子復(fù)合材料。廣角衍射：較低角度可以達(dá)到5度，可以接收到小于10度的衍射峰。
（1）測量精度：角度重現(xiàn)性±0.0001°；測角儀半徑≥200mm，測角圓直徑可連續(xù)變
（2）小步長0.0001°；角度范圍（2θ）：-110～168°；溫度范圍：室溫～900℃；
（3）較大輸出：3KW；穩(wěn)定性：±0.01%；管電壓：20～60kV(1kV/1step)；管電流：10～60mA。
送樣要求
固體粉末：均勻干燥，粒度小于70um（過200目），質(zhì)量不少于100 mg；
塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm
應(yīng)用領(lǐng)域
物相分析，可以對物質(zhì)的組成及物相進行表征分析.
定性、定量分析，通過精修可對物質(zhì)的各組分進行的定量分析。
高溫原位分析，通過高溫原位可以研究溫度對物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。
常見適用標(biāo)準(zhǔn)
通用標(biāo)準(zhǔn)和非通用標(biāo)準(zhǔn)都適用。
