德國KK接觸法探頭B0.5SL、B2S,MB4S,B2S-0介紹
帶可更換保護(hù)膜的直探頭
接觸法
B0.5SL
形狀與粗晶探頭
K0.5S和K1S相同
B2S
設(shè)計上與K..SC探頭相同
MB4S
設(shè)計上與MK..S探頭相同
B2S-0
形狀與K0.5SM和K1SM探頭
相同
主要特性:
•單晶探頭實現(xiàn)聲波的發(fā)射和接收
•縱波垂直傳輸
•即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上,由于柔性的抗磨損保護(hù)膜而具有穩(wěn)定的耦合特性
•如果及時地更換保護(hù)膜,則探頭的磨損可以達(dá)到最小
•特殊的粗晶探頭,在測試高衰減材料時,利用短脈沖可以達(dá)到高信噪比
•由于采用印模壓鑄成型,因此實際形狀具有很高的穩(wěn)定性
主要應(yīng)用領(lǐng)域
通常:用于容器或者平行于表面的缺陷探測和評估??筛鼡Q的 聲波的散射作用(例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合
抗磨損的保護(hù)膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達(dá)到 成材料等制成的物體)而使聲波衰減嚴(yán)重。
最好耦合,并防止探頭磨損。
它們也可以用于檢測材料的物理特性(例如建筑材料、巖芯和
B..SL:
用于檢測中等尺寸和大尺寸物體,它們由于聲程長(例如大的
半導(dǎo)體材料的特性)。
鍛件或球墨鑄鐵)而導(dǎo)致聲波衰減嚴(yán)重。它們也適用于檢測 B..S和MB..S:
具有強(qiáng)聲波吸收特性的塑料材料(例如尼龍、特氟龍、聚丙 這類探頭性能參數(shù)誤差小,對目前大多數(shù)的檢測任務(wù)(例如平
烯),為增加靈敏度和分辨率,可以將保護(hù)膜去掉。
K..S,K..SM,K..SC和MK..S(粗晶探頭):
板物、條狀物和方形輪廓物體的測試,以及容器和螺釘、螺孔
和外殼等的測試),可以達(dá)到最高的精度要求。對于由多種材
料(例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料)構(gòu)成的
用于檢測粗晶粒中等尺寸和大尺寸物體,這種材料的物體由于 形狀簡單的部件檢測也可以達(dá)到高精度要