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全波長(zhǎng)透過率檢測(cè)儀 全光譜透過率測(cè)試儀 手機(jī)屏穿透率測(cè)量?jī)x
全光譜透過率檢測(cè)儀采用先進(jìn)的光譜測(cè)量技術(shù)，可進(jìn)行快速全光譜的透過率測(cè)量，具有快速、簡(jiǎn)易、準(zhǔn)確等特性。是目前市場(chǎng)上非常新款、十分、性價(jià)比非常高的透過率專用檢測(cè)儀器。適用于各種光學(xué)元件、平面玻璃、濾光片、IR油墨孔鍍膜鏡片、顯示屏、手機(jī)屏、觸摸面板、塑料、硅膠材料等產(chǎn)品透過率測(cè)量。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、采用先進(jìn)光譜測(cè)量技術(shù)，快速全光譜透過率測(cè)量。
2、實(shí)時(shí)顯示400-1000nm各波段透過率數(shù)據(jù)跟光譜曲線。
3、用戶可自定義測(cè)量方案，設(shè)置平均透過率跟標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)。
4、可計(jì)算CIE顏色參數(shù)，xy、Lab、主波長(zhǎng)、飽和度、色度等參數(shù)。
5、測(cè)試軟件，可根據(jù)實(shí)際操作需求設(shè)定、儲(chǔ)存及打印列表資料。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | SWQT88 |
光譜范圍 | 400-1000nm |
分辨率 | 1nm |
信噪比 | 300：1 |
相對(duì)檢測(cè)誤差 | ≤0.5% |
重復(fù)精度 | ≤0.5 % |
測(cè)量速度 | ≤1s |
小測(cè)量孔徑 | 1mm |
光源 | 鹵素?zé)?/span> |
快速靈活
超快速光譜檢測(cè)，1秒鐘內(nèi)可以得到樣品
的任意一個(gè)波長(zhǎng)的光譜數(shù)據(jù)及譜圖，可用
于實(shí)時(shí)及在線檢測(cè)。
CIE顏色檢測(cè)功能
可計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù)，
如：x、y、L、a、b、主波長(zhǎng)等。
質(zhì)檢功能
可以設(shè)置任意波長(zhǎng)范圍的上限、下限進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)儀，快速判斷產(chǎn)品
