靜態(tài)參數(shù)測(cè)試 | 高壓反偏測(cè)試 | |
測(cè)試參數(shù)IR | 常溫下: 10nA~2mA 高溫3000C下: luA-2mA 測(cè)試條件: 反向電壓:直流50-5000V、直流方波 脈沖竟度: 50uS-1S | 試驗(yàn)電壓: 50~5000V±3%±10V; 器件需電流測(cè)目范國: 常溫下: 10nA-2mA 高溫3000c:下: luA~2mA 測(cè)試時(shí)間:計(jì)算機(jī)設(shè)定 測(cè)試工位: 60只(可根據(jù)害戶要求定制) 測(cè)誠方法: 器件在特定溫度下存儲(chǔ)一定時(shí)間后,在設(shè)定電壓下對(duì)每只器件同時(shí)持續(xù)加反圧進(jìn)行測(cè)試, 每隔1-2秒刷新一遍輸出的測(cè)試結(jié)果,監(jiān)控各器件反壓下漏電流參數(shù), 并保存測(cè)試數(shù)據(jù),
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測(cè)試參數(shù)BvR | 50V-5000V 測(cè)試條件: 反向電流: 100nA-2mA、直流方波 脈沖竟度: 50uS-lS | |
測(cè)試參數(shù)BvR | 0.01-50V 測(cè)試條件: 正向電流: 0.1mA~60A、直流方波 脈沖寬度50uS-1S | |
測(cè)試工位 | 60只(可根據(jù)客戶要求定制) | |
測(cè)試方法 | 器件在特定溫度下存儲(chǔ)一定時(shí)間后,在設(shè)定電壓按規(guī)定條件施加下對(duì)被測(cè)器件的漏電流、 反壓及正向壓降依次進(jìn)行測(cè)試,每個(gè)參數(shù)之間間隔為80ms;兩工位之間的測(cè)試時(shí)間間隔為500mS,將被測(cè)元件分為3組,各組同時(shí)進(jìn)行,測(cè)試的各參數(shù)結(jié)果可自動(dòng)存儲(chǔ)于工控機(jī)。 |
技術(shù)指標(biāo):
一、 概述
SiC高低溫試驗(yàn)臺(tái)由VR可靠性試驗(yàn)臺(tái),IR可靠性試驗(yàn)臺(tái),BVR可靠性試驗(yàn)臺(tái),VF試驗(yàn)臺(tái),高溫烘箱、低溫烘箱、測(cè)試夾具組成。主要測(cè)試高溫和低溫下二極管反向電壓下的漏電流、階梯電壓下的漏電流、電流下的電壓, 峰值電流下的壓降。
二、 使用要求
A. 進(jìn)線電壓:AC220V±10%(含高溫烘箱和低溫烘箱)
B. 電壓頻率:50Hz±1Hz
C. 設(shè)備總功率:三相20KW
D. 高溫烘箱總功率:4KW
E. 低溫烘箱總功率:4KW
F. 環(huán)境溫度:10~50℃
G. 工作濕度:溫度不高于+30℃時(shí),相對(duì)濕度5%-80%。
溫度+30℃到+50℃時(shí)相對(duì)濕度5%-45%,無冷凝。
H. 大氣壓力: 86Kpa~106Kpa
I. 海拔高度:不超過3000米。
三 技術(shù)指標(biāo)
3.1測(cè)試臺(tái)技術(shù)性能指標(biāo)
u 二極管規(guī)定反向電壓下的漏電流測(cè)試
u 試驗(yàn)電壓:直流電壓50V~5000V ±3%±10V
u 單工位測(cè)試電流:10nA-2mA
u 測(cè)試工位:60個(gè)
u 控制方式:計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制
u 測(cè)試二極管規(guī)定反向電流下對(duì)應(yīng)的電壓
u 試驗(yàn)電流:10nA-2mA±3%±0.1uA
u 測(cè)試電壓:直流電壓50V~5000V ±3%±10V
u 單工位測(cè)試電流:10nA-2mA
u 測(cè)試工位:60個(gè)
u 測(cè)試參數(shù)VF:0.01~50V±3%±0.1V;
u 測(cè)試條件:正向電流:0.1mA~60A;直流方波,脈沖寬度50uS-1S。
u 測(cè)試工位:60只。
u 測(cè)試方法:器件在特定溫度下存儲(chǔ)一定時(shí)間后,在設(shè)定電壓按規(guī)定條件施加下對(duì)被測(cè)器件的漏電流、反壓及正向壓降依次進(jìn)行測(cè)試,每個(gè)參數(shù)之間間隔為80ms;兩工位之間的測(cè)試時(shí)間間隔為500mS,將被測(cè)元件分為3組,各組同時(shí)進(jìn)行。測(cè)試的各參數(shù)結(jié)果可自動(dòng)存儲(chǔ)于工控機(jī)。
u 控制方式:計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制
3.2控溫箱性能指標(biāo)
? 試驗(yàn)溫度范圍:-55 oC到400oC
? 低溫箱溫度控制精度范圍-55~+150℃
? 溫度波動(dòng)度≤±2℃(空載時(shí))
? 溫度均勻度≤±3℃(空載時(shí))
? 高溫箱溫度控制精度范圍:
? 溫度范圍RT+10℃~400℃
? 溫度波動(dòng)度±2℃
? 溫度均勻度≤±3℃(空載時(shí)),
3.3夾具性能指標(biāo)
? 測(cè)試工位:60工位
? 工位轉(zhuǎn)換:自動(dòng)切換
? 耐溫范圍:-55oC~400oC
四 計(jì)算機(jī)功能介紹
計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)是該設(shè)備的中心控制單元。計(jì)算機(jī)采用的是研華工業(yè)控制機(jī),機(jī)箱為610H型,抗電磁干擾能力強(qiáng),排風(fēng)量大等特點(diǎn)。該套系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、NI6221數(shù)據(jù)采集卡、數(shù)字電路隔離、高速脈沖隔離、模擬隔離、電壓采樣、電流采樣。
NI6221數(shù)據(jù)采集卡主要功能控制工位選擇和選擇測(cè)試功能。
? 數(shù)字隔離:控制功能選擇和工位轉(zhuǎn)換。
? 高速脈沖隔離:控制測(cè)試信號(hào)和保護(hù)信號(hào)輸出。
? 模擬隔離:采集測(cè)試時(shí)被試元件兩端電壓和漏電流。
? NI PCI6221端口功能
西安精華偉業(yè)電氣科技有限公司(www.xianjhwy.cn)專業(yè)從事IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、IGBT功率循環(huán)試驗(yàn)臺(tái)、浪涌電流試驗(yàn)臺(tái)、FRD測(cè)試臺(tái)、SiC雪崩能量測(cè)試儀、Tq Qr and dv dt檢測(cè)設(shè)備、晶閘管阻斷特性測(cè)試臺(tái)、被動(dòng)熱循環(huán)試驗(yàn)臺(tái)、高溫反偏試驗(yàn)臺(tái)等大功率檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)設(shè)計(jì)、制造、經(jīng)營、技術(shù)咨詢與服務(wù)。