PVDF聚偏二氟乙烯 1.聚偏氟乙烯（PVDF）具有較高的機(jī)械強(qiáng)度和輻射穩(wěn)定性，是由于其基本的屬性。 偏氟乙烯（VDF）的分子屬于不對稱分子，體積和電負(fù)性都不相同的兩個(gè)氫原子和兩個(gè)氟原子分別與一個(gè)碳原子相連，因此PVDF高分子鏈具有較高的規(guī)整度，分子鏈間排列較密，且存在較強(qiáng)的氫鍵，是具有較高結(jié)晶度的聚合物。 PVDF由－CH2－CF2－重復(fù)單元構(gòu)成，是結(jié)晶度為50~80%的結(jié)晶性聚合物。由于PVDF的分子骨架具有大的偶極矩極其聚集體的結(jié)晶存在，從而決定了該材料的機(jī)械性能、熱性能、溶解性、溶劑溶脹性、電性能、耐候性等特性。當(dāng)含有一定數(shù)量的“頭－頭”連接異常結(jié)合時(shí)，會(huì)使結(jié)晶性受到影響。異常結(jié)合使結(jié)晶內(nèi)部產(chǎn)生缺陷部位，增加對溶劑的溶脹性，使熔點(diǎn)降低。這種異常結(jié)合存在的比例，是取決于聚合條件，尤其依賴聚合溫度。 大部分氟塑料耐輻照性能不是太好，但PVDF卻是例外。PVDF薄膜經(jīng)3×10E8拉特計(jì)量γ射線輻照后，未見其性能嚴(yán)重下降，與此相比如PTFE在8×10E8拉特下，已經(jīng)脆到無法進(jìn)行測試了。 M.D.Duca等人以非單色光MgKa源產(chǎn)生的X射線對PVDF進(jìn)行輻照，采用X射線光電子光譜分析法（XPS）研究了PVDF的表面結(jié)構(gòu)及電子變化。結(jié)果表明，PVDF經(jīng)過軟X射線照射之后，聚合物表面出現(xiàn)了“氟貧化”現(xiàn)象，及CF2（290.90eV）基團(tuán)的百分率減小，而CF（288.30eV）基團(tuán)的百分率增大，但組成的變化卻不明顯，這是因?yàn)殡S著PVDF表面的脫氟，不與氟原子直接相連的碳原子產(chǎn)生了交聯(lián)以及形成了雙鍵的緣故。（CH、＝CH－）基團(tuán)的出現(xiàn)是X射線輻照所致，盡管如此，對于PVDF來說，XPS仍不失為一種無損表面的分析技術(shù)，因?yàn)椋诙虝旱姆治鰰r(shí)間內(nèi)，X射線的損害并不明顯. 2.聚偏氟乙烯的用途非常廣泛，在含氟聚合物品種當(dāng)中，全球消費(fèi)總量僅次于PTFE被列為含氟聚合物第二大類。 由于均聚物的剛性較高，不適宜應(yīng)用于電線電纜覆被。為了改變其剛性提高柔軟性，采用第二（或第二+第三）單彈體進(jìn)行二元（或三元）共聚改性。例如：偏氟乙烯（VDF）與四氟乙烯（TFE）改性共聚物、VDF與六氟丙烯（HFP）改性共聚物、VDF-TFE-HFP改性共聚物，等等。改性PVDF提高了較柔軟性和韌性等特性，被大量應(yīng)用在電線電纜等領(lǐng)域。