泰立儀器代理美國GE工業(yè)無損檢測。
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用于特殊形狀工件
例如飛機零件
① G…MN,G…KS型
多種頻率高分辨率的直探頭, 可更換延遲塊, M i c r o d o t 接頭, G … K S 為L emo 0 0探頭。例如用于渦輪葉片冷卻
壁測量。檢測塑料時, 延遲塊可根據(jù)實際使用環(huán)境設計, 使延遲塊跟工件完美耦合, 消除界面回波( 0 界面探頭) 。
② H…MN…F型
高分辨率水浸探頭,多種頻率和晶片直徑可選,探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防水L emo 0 3接頭;例如用于渦輪葉片的厚度測量。
③ SMWB…
小晶片斜探頭,4 MHz,5MHz或6 MHz,晶片尺寸3mm x 4mm,Microdot接頭;例如檢測鉚釘孔的裂紋,也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測。