名片曝光使用說明

步驟1：創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼，進入虎易名片小程序，使用微信授權登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2：投放名片

創(chuàng)建名片成功后，將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務，服務費用為：1虎幣/天。(虎幣充值比率：1虎幣=1.00人民幣)

關于曝光服務

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產(chǎn)品簡介 PHYS-R80 無接觸厚度電阻率測試儀是一款用于硅片的厚度、電阻率測量的儀器，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標準，確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。 特征 ■無接觸無損傷測量 ■電阻率和厚度同時測量 ■適用的晶圓材料包括Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料 ■電腦觸摸屏顯示 ■抗干擾強，穩(wěn)定性好 ■強大的工控機控制和大屏幕顯示 ■一體化設計操作更方便，系統(tǒng)穩(wěn)定 ■為晶圓硅片關鍵生產(chǎn)工藝提供的無接觸測量 技術指標 ■測試尺寸：50mm- 300mm. ■厚度測試范圍：1000 um，可擴展到1700 um ■ 厚度測試精度： /-0.25um ■ 厚度重復性精度：0.050um ■ TTV 測試精度: /-0.05um ■ TTV重復性精度: 0.050um ■電阻率測試范圍：0.1ohm.cm——50 ohm.cm ■ 電阻率測試精度： /- 2% ■ 電阻率測量重復精度： /- 1% ■ 晶圓硅片導電型號：P 或 N型 ■ 材料：Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有半導體材料 ■ 可用在：切片后、磨片前、后，蝕刻，拋光以及出廠、入廠質(zhì)量檢測等 ■平面/缺口：所有的半導體標準平面或缺口 ■ 硅片安裝：裸片，藍寶石/石英基底，黏膠帶 ■ 連續(xù)5點測量 應用范圍 > 切片 >>線鋸設置 　　　　>>>厚度 　　>>>總厚度變化TTV >>>電阻率 >>監(jiān)測 >>>導線槽 >>>刀片更換 >磨片/刻蝕和拋光 >> 過程監(jiān)控 >> 厚度 >>總厚度變化TTV >> 材料去除率 >　研磨 >> 材料去除率 >　終檢測 >>　抽檢或全檢 >> 終檢厚度 >> 終檢電阻率
產(chǎn)品推薦
“無接觸厚度電阻率測試儀”信息由發(fā)布人自行提供，其真實性、合法性由發(fā)布人負責。交易匯款需謹慎，請注意調(diào)查核實。