太陽(yáng)能組件EL缺陷測(cè)試儀技術(shù)方案 部分 設(shè)備介紹及技術(shù)方案 1．太陽(yáng)能組件EL缺陷測(cè)試儀概述 全自動(dòng)在線EL測(cè)試儀 半自動(dòng)EL測(cè)試儀 太陽(yáng)能電池組件缺陷檢測(cè)（EL）全自動(dòng)測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱EL全自動(dòng)測(cè)試儀）用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。該設(shè)備可與客戶的產(chǎn)線配套，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上下料，自動(dòng)測(cè)試，可人工對(duì)缺陷進(jìn)行標(biāo)記，保存在本地或遠(yuǎn)端數(shù)據(jù)庫(kù)中，PC控制軟件可通過(guò)以太網(wǎng)接口實(shí)現(xiàn)與客戶系統(tǒng)對(duì)接，傳輸測(cè)試結(jié)果和報(bào)警信息，并可依據(jù)客戶需求定制功能。 2．太陽(yáng)能組件EL缺陷測(cè)試儀技術(shù)參數(shù) 型號(hào) EL140S/D-M EL600S/D-M EL830S/D-M 有效測(cè)試面積 1200mm X 2100mm 相機(jī)類型 冷卻型CCD 相機(jī)像素 140萬(wàn) 600萬(wàn) 830萬(wàn) 分辨率 1360×1024（單） 2720*1024（雙） 3032*2016（單） 6656*2030（雙） 3358*2536（單） 6716*2536（雙） 測(cè)試組件類型 單晶、多晶組件 冷卻到達(dá)溫度 致冷至室溫下 20 °C 可編程電源輸出電壓 0~80V 可編程電源輸出電流 0~9.5A 電源參數(shù) 單相220V 10A 較大加載電壓80V，較大加載電流 10A 測(cè)量溫度范圍 0～50℃（分辨率0.1℃ ），紅外線測(cè)溫，直接測(cè)量電池片溫度 曝光時(shí)間 0—60秒可調(diào) 壓縮空氣 0.8MP 使用時(shí)間 層壓前、 層壓后皆可 可檢測(cè)缺陷類似 檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象 3．太陽(yáng)能組件EL缺陷測(cè)試儀應(yīng)用范圍 檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象 聯(lián)系人:王丹丹手機(jī):15671696592 電話027-59722666-8012 QQ: 1316003860