名片曝光使用說明

步驟1:創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼,進入虎易名片小程序,使用微信授權(quán)登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2:投放名片

創(chuàng)建名片成功后,將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務,服務費用為:1虎幣/天。(虎幣充值比率:1虎幣=1.00人民幣)

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75-100mm平行平晶 簡介 具有兩個(或一個)光學測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面,它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋(見激光測長技術(shù))。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的,用于測量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45~150毫米。其光學測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03~0.05微米;2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。www.bz-xa.com and www.85637775.com 平行平晶:是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。 平行平晶:用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。 具體規(guī)格: 每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組 測量面上平面度偏差: <0.1μm 平面度局部偏差:   >0.03μm 測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm 組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm 組Ⅳ系列允差值:0.1μm 組Ⅰ 平行平晶 0-25mm 4塊/組 組Ⅱ 平行平晶 25-50mm 4塊/組 組Ⅲ 平行平晶 50-75mm 4塊/組 組Ⅳ 平行平晶 75-100mm 4塊/組
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