一、概述 MC-2000A型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：0～1200um，是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代國際同類儀器的先進(jìn)水平。 涂層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍： 本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、橡膠、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。 涂層測(cè)厚儀工作原理 ： MC-2000A型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。 一、概述 MCW-2010A型（渦流）涂層測(cè)厚儀測(cè)量范圍：0~1200um 適合測(cè)量小工件和薄涂層厚度。它采用抗干擾技術(shù)、測(cè)量精度高、數(shù)字顯示、功耗低、內(nèi)置探頭全量程測(cè)量、機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷；且具有欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，其性能已經(jīng)達(dá)到國際同類儀器的先進(jìn)水平。 二、產(chǎn)品性能 1、測(cè)量范圍： 0~1200um 2、測(cè)量誤差（H為被測(cè)覆層厚度）：±（3%H 1um） 或H±2um 3、重復(fù)性：±（1%H 1um） 4、小示值： 1um 5、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示 6、主要功能： (1).測(cè)量：內(nèi)置探頭全量程測(cè)厚 (2).統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、較大值、小值 (3).校準(zhǔn)：可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn) (4).電量：具有欠壓顯示功能