德國EPK(Elektrophysik)公司 EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn)： 　　MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能； 　　所有型號均可配所有探頭； 　　可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)； 　　可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。 EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征： 型號 1100 2100 3100 4100 MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99 每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值)   1   500 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)   1     數(shù)據(jù)總量   10000 10000 10000 MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar   √ √ √ 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk     √ √ 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar     √ √ 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk     √ √ 存儲顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)       √ 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值     √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間   √ √ √ 其他功能 設(shè)置極限值 √ √ 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 √ √ 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)     √ √ 連續(xù)測量模式中顯示最小值 √ √ EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù)： 　　所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的 形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 　　F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 　　N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 　　FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能 探頭 量程 低端 分辨率 誤差 最小曲率半徑 (凸/凹) 最小測量 區(qū)域直徑 最小基 體厚度 探頭尺寸 磁 感 應(yīng) 法 F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 兩 用 FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm/N50μm φ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm 電 渦 流 法 N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 50μm φ15x62mm N2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm 　　F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 　　N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 　　CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭 FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度 FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(O.1μm) F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層   F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm)   F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測量   F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等   F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等   F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層   N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm)   N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層   N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm)   N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層   N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm)   N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測量   N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等   N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等   N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等   CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板