LCR-8110G高精度LCR測(cè)試儀，提供高達(dá)1MHz寬廣的測(cè)量頻率范圍以及0.1%的基本度。另外，還包括DC電阻測(cè)量以及電壓/電流監(jiān)測(cè)功能 產(chǎn)品詳情： 加工定制： 是 類型： 智能LCR測(cè)量?jī)x 品牌： MICROTEST 型號(hào)： 8110G 測(cè)量范圍： 20HZ－10MHZ 測(cè)量準(zhǔn)確度： 0.1%（%） 測(cè)量頻率： 20HZ-10M（Hz） 測(cè)量速度： 50ms 特點(diǎn) ※寬廣的測(cè)試頻率范圍20Hz~10MHz ※0.1%基本度 ※6位解析度 ※DC電阻測(cè)量 ※帶有被測(cè)元件電壓/電流監(jiān)控的測(cè)量功能 ※帶有判斷警報(bào)的PASS/FAIL測(cè)試功能 ※超大LCD顯示屏和友好的用戶界面 ※多步驟模式 ※圖表模式 ※標(biāo)準(zhǔn)RS-232C/GPIB接口 高精度LCR測(cè)試儀, 20Hz ~ 10MHz LCR-8110G高精度LCR測(cè)試儀，提供高達(dá)1MHz寬廣的測(cè)量頻率范圍以及0.1%的基本度。另外，還包括DC電阻測(cè)量以及電壓/電流監(jiān)測(cè)功能，并搭配5.6”LCD可以同時(shí)顯示所有測(cè)試參數(shù)及結(jié)果。多步驟測(cè)試功能可以針對(duì)同一待測(cè)體一次執(zhí)行不同參數(shù)的測(cè)量，快速分析待測(cè)體的特性；并且每組編程包括30個(gè)測(cè)試步驟，每個(gè)步驟均可以設(shè)置測(cè)試參數(shù)和限制，執(zhí)行Pass/Fail判定。圖表模式功能，LCR-8110G將以圖表的形式，顯示元器件的阻抗特性隨著掃描頻率或電壓的變化所呈現(xiàn)的規(guī)律，并以曲線圖的形式顯示結(jié)果。標(biāo)準(zhǔn)配備的GPIB和RS-232C接口，可以用于設(shè)備遠(yuǎn)端控制和讀取測(cè)試結(jié)果。LCR-8110G系列豐富的特點(diǎn)讓您的測(cè)試任務(wù)變得更加簡(jiǎn)單而實(shí)用。 測(cè)試頻率 20Hz ~ 10MHz, 5位數(shù), ±0.005% 輸入阻抗 100Ω 基本準(zhǔn)確度 ±0.1% (R, Z, X, G, Y, B, L, C) 測(cè)試速度 交流(> 2kHz) 直流 較大(MAX): 75mS 較大(MAX): 30mS 快速(FAST): 150mS 快速(FAST): 60mS 中速(MEDIUM): 450mS 中速(MEDIUM): 120mS 慢速(SLOW): 600mS 慢速(SLOW): 900mS 測(cè)試信號(hào)電平 ≦3MHz：10mV~2Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV ＞3MHz：10mV~1Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV 短路電流 較大20mA 測(cè)量范圍 R, Z, X 0.1mΩ ~ 100MΩ G, Y, B 10nS ~ 1000S L 0.1nH ~ 100kH C 0.01pF ~ 1F D 0.00001 ~ 9.9999 Q 0.1 ~ 9999.9 θ -180° ~ 180° Rdc 0.1mΩ ~ 100MΩ 測(cè)量參數(shù) 阻抗(Z),相位角(θ),電感(L),電容(C), 交流電阻(Rac),品質(zhì)因數(shù)(Q), 損耗因數(shù)(D), 導(dǎo)納(Y),電導(dǎo)(G),電抗(X),電納(B), 直流電阻(Rdc) 串聯(lián)/并聯(lián)等效電路 C R, C D, C Q, L R, L Q, L D 串聯(lián)等效電路 X R, X D, X Q 并聯(lián)等效電路 C G, B G, B D, B Q, B R, L G 向量測(cè)量組合 Z Phase Angle, Y Phase Angle LCD顯示屏 320 x 240點(diǎn)陣顯示 接口 RS-232, GPIB 電源 AC 115V ±10% / 230V ±10% (可選), 50/60Hz 尺寸