名片曝光使用說明

步驟1:創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼,進入虎易名片小程序,使用微信授權(quán)登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2:投放名片

創(chuàng)建名片成功后,將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務(wù),服務(wù)費用為:1虎幣/天。(虎幣充值比率:1虎幣=1.00人民幣)

關(guān)于曝光服務(wù)

名片曝光只限于使用免費模板的企業(yè)產(chǎn)品詳細頁下,因此當(dāng)企業(yè)使用收費模板時,曝光服務(wù)將自動失效,并停止扣除服務(wù)費。

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產(chǎn)品簡介: PTI-816在線測試儀,量測電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極管、三極管、FET、SCR、LED、光耦、繼電器和IC等,檢測出電路板產(chǎn)品的各種缺陷,如:線路短路、開路、缺件、錯件、反向、元件不良或裝配不良等等。并明確指示缺點所在位置。 PTI-816擁有多項先進的硬件和軟件技術(shù),在國內(nèi)使用磁簧式繼電器(Reed Relay),是當(dāng)今測試覆蓋率高、測試穩(wěn)定、使用方便、提供測試數(shù)據(jù)很全面的電路板在線測試儀。 產(chǎn)品特點: § 硬件各功能板卡模塊化,豐富的信號源,確保機器的穩(wěn)定性 § 安全性設(shè)計:可 配備光電感應(yīng)裝置,緊急按鈕等多重安全設(shè)計,保障操作人員安全。 § 放電功能,機器安全及測試穩(wěn)定 § 支持JTAG的IC燒錄及Boundary scan 技術(shù),提品可測率。 § 系統(tǒng)具有完善的自我診斷及、自我偵測功能及遠端遙控功能 軟件特點: § Windows視窗版操作環(huán)境、人性化界面設(shè)計、操作簡易。 § 分頁式的軟件設(shè)計界面可快速切換操作界面。 § 多用戶管理權(quán)限,滿足不同管理層要求。 § 串并聯(lián)情況即時顯示功能 § Board View功能可即時顯示不良元件針點位置,方便檢修 電腦主板 Board View全圖顯示 § ATPD自動生成程序及除錯。 a. 電腦自動學(xué)習(xí)并自動產(chǎn)生,開/短路、Pin Information、IC保護二極體測試程式、IC_Scan測試程式及TJ測試程式 b. 電腦自動隔離選擇功能,自動判斷信號源及信號流入方向,能自動完成90%以上的程式調(diào)試 c. 自動學(xué)習(xí)雜散電容和接觸電阻。 § 完整測試統(tǒng)計資料及報表產(chǎn)生,且自動儲存。 硬件特點: 模塊化硬件設(shè)計,使功能擴展更加方便 每片板卡采用四層板且交直流獨立,抗干擾、信號處理效果佳;高精密工業(yè)元件,如poly電容誤差在 ± 1%,長時間使用不變質(zhì),溫度系數(shù)好 A/D:16Bit,具備64K分解度 采用超高壽命的Reed Relay,作為開關(guān)系統(tǒng)的部件,使ICT擁有眾多優(yōu)點,如下: § 隔離效果優(yōu)異,小電容,大電阻量測準(zhǔn)確且不受溫度影響 § 接觸電阻小,小電感,小電阻量測精度高 § 耐電流、電壓高,無須增加配件可測50V Zener Diode,擴展功能測試的可行性高 § 漏電流方式測試電容極性比CMOS Relay的可測性以及穩(wěn)定性高 先進技術(shù) § HP TestJet Technology,是通過量測傳感器與IC腳框之間的電場量來偵測IC接腳的空焊,靈敏的電容(10fF 級)感應(yīng)可測試IC引腳、接插件漏焊開路、電容極性等,對BGA IC和SMD接插件效果尤為明顯。如圖 寬頻而準(zhǔn)確的相位分離量測法 在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C量測使用傳統(tǒng)的方法無法量測或偏值,特研發(fā)相位測量法,根據(jù)正弦波經(jīng)過電阻,電容,電感的相位角不一樣。分別量出其元件值。 三端點、四端點量測 對于三端點的元件,如Transistor、Digital Transistor、FET、SCR等:四端點元件如Photo Coupler 繼電器功能等可測試出反插或元件損壞。 電解電容極性測試 § 以三端量測法偵測鋁質(zhì)電容極性反插??蓽y率 § 以測漏電流方式檢測電容極性反插,可測率極高。 IC Scan Technology IC Scan是發(fā)展出來的并聯(lián)IC腳空焊、冷焊的偵測法,可用來檢測并聯(lián)IC腳空焊的缺點。 § 針盤無需要增加任何配件,不增加任何成本。 § IC Pin冷焊,空焊等接不良的問題可以檢測 § IC Bonding wire open或輸入極毀壞均可檢測 § PLCC 、 BGA封裝IC的測試效果卓著
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