公司名稱：深圳市賽特檢測有限公司

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高溫測試

實驗目的
為了考察高溫負載對試樣的影響，確定試樣在高溫負載條件下工作的適應性.實驗一般用到 高溫試驗箱。

實驗原理
在高溫直流負載條件下，被試樣品會受到高溫應力及電應力的雙向作用，其電性能和內(nèi)部結(jié)構(gòu) 都會有一定程度的變化。試驗后對被試樣品的電性參數(shù)及外觀進行檢查，就能判斷被試樣品抵 抗高溫和電流負載的能力。  

高溫運行/高溫貯存試驗的目的是確定軍民用設(shè)備，零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存，使用的適應性及耐久性，確認材料高溫下的性能。

為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應同時避免因濕度效應影響試驗結(jié)果，標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞和氧化等現(xiàn)象。

高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
1. 填充物和密封條軟化或融化
2. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減小
3. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞
4. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學反應等
5. 材料膨脹造成機械應力增大或磨損增大

參考標準
IEC 60068-2-2:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫
GJB128A-97 半導體分立器件試驗方法
MIL-STD-810F環(huán)境工程考慮與實驗室試驗
GJB4.2-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
MIL-STD-202F電子及電氣元件試驗方法
GJB548A-96 微電子器件試驗方法和程序
MIL-STD-883D 微電子器件試驗方法和程序
SJ/T 10325-92汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法4.1 高溫負荷試驗
SJ/T 10325-92汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法4.2 高溫貯存試驗
GB/T13543-92數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法
QC/T 413-2002汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件
YD/T 1591-2009移動通信手持機充電器及接口技術(shù)要求和測試方法

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