1、產(chǎn)品概述: 高低溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及汽車飾件材料在高溫、低溫的環(huán)境原料性能、產(chǎn)品包裝、產(chǎn)品壽命等測(cè)試。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試;測(cè)試后,通過檢測(cè)來判斷產(chǎn)品的性能仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。 2、制造標(biāo)準(zhǔn): 該設(shè)備是按下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)制造 GB 10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法 GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 4、技術(shù)參數(shù): 1、降溫速率:0.7℃~2℃/1min 2、溫度偏差:
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