一、老化房簡介:
HOCHECK老化房,是針對高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備,是提品穩(wěn)定性、性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。
根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測試負(fù)載等,通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件,為客戶迅速找出問題、解決問題的有效手段,充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì),也是針對于開關(guān)電源、手機(jī)充電器、電池、LCD、主板機(jī)、掃描器、監(jiān)視器、介面卡等做負(fù)載或溫度老化測試的一種設(shè)備,此設(shè)備外框架構(gòu)采用保溫庫板隔間組合而成,配上主配電箱、測試架、溫度控制器、定時(shí)器、各種電器開關(guān)、加溫電熱器、盤架、拉門、循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境(40℃ -70℃