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硬件電路的實(shí)現(xiàn)和測(cè)試將硬件電路通過分立板的形式集成到整個(gè)數(shù)字閉環(huán)加速度計(jì)樣機(jī)系統(tǒng)之上進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試。因?yàn)閱为?dú)對(duì)設(shè)計(jì)的差動(dòng)電容檢測(cè)電路進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試在實(shí)驗(yàn)室條件下很難進(jìn)行,原因在于準(zhǔn)確產(chǎn)生l腰量級(jí)的電容值在實(shí)驗(yàn)室條件下并不容易,因此不能夠像仿真軟件那樣進(jìn)行的驗(yàn)證??紤]到該電路設(shè)計(jì)目的是應(yīng)用于數(shù)字閉環(huán)石英撓性加速度計(jì)中,因此,通過對(duì)整個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果來反映差動(dòng)電容檢測(cè)電路的實(shí)用性。
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