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探頭負(fù)載更小的高精度高頻率測(cè)量
為了測(cè)試需要小負(fù)載的高阻抗、高頻率電路，我們的有源電壓探頭系列能夠提供正確的信號(hào)帶寬和更低的探頭負(fù)載，幫助捕獲單端地面參考信號(hào)。對(duì)于無(wú)源探測(cè)解決方案會(huì)造成很大負(fù)載的小型幾何應(yīng)用來(lái)說(shuō)，有源探頭提供了一種更好的選擇。
場(chǎng)效應(yīng)管有源探頭
P6205
特性及優(yōu)點(diǎn)
P6205
DC至750兆赫
2 pF的輸入C
1MΩ輸入
積分廠家，探討電力TEKPROBE
應(yīng)用
高速數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)的ECL
CMOS制; FastCMOS; BiCMOS工藝，TTL電
組件設(shè)計(jì)/表征
振幅水平
像差
傳輸延時(shí)和定時(shí)
帶寬和上升時(shí)間
教育研究
制造工程和測(cè)試
為T(mén)EKPROBE
