V-Sorb 2800孔徑儀是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑測(cè)量?jī)x器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理.相比國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品,多項(xiàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到國(guó)際同類(lèi)產(chǎn)品先進(jìn)水平,部分功能超越國(guó)外產(chǎn)品. 金埃譜科技是國(guó)內(nèi)較早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性較好,并獲取上海計(jì)量院檢測(cè)證書(shū),同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中一家注冊(cè)資本超百萬(wàn)的生產(chǎn)企業(yè),讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂(yōu)! 全自動(dòng)容量靜態(tài)法孔徑儀性能參數(shù) 測(cè)試方法及功能:真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線(xiàn)測(cè)定,BJH總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),Langmuir法比表面積測(cè)定,t－plot圖法外比表面積測(cè)定 測(cè)定范圍:0.01(m2/g)--至無(wú)上限(比表面積);0.35nm-400nm(孔徑) 測(cè)量精度:重復(fù)性誤差小于1.5% 真空系統(tǒng):的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑測(cè)定的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命. 液位控制:的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差. 控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命. 樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理 壓力測(cè)量:采用壓力分段測(cè)量的雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa) 壓力精度:硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15％,優(yōu)于全量程的0.15％,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15％) 分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10－6－0.995 極限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr) 樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等 測(cè)試氣體:N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr) 數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng). 數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表. 全自動(dòng)容量靜態(tài)法孔徑儀特點(diǎn) A.孔徑儀真空系統(tǒng) 1)的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用集裝管路,顯著減少管路連接點(diǎn),大大降低漏氣率,提高極限真空度. 2)模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),一體式集裝管路,需人工進(jìn)行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶(hù)需求按需配置及后期功能擴(kuò)展,有利于維修更換. 3)采用中德合資的真空泵,噪音小,運(yùn)行穩(wěn)定,防油返功能卓越,極限真空度高,可達(dá)4x10－2Pa (3x10－4Torr) B.孔徑儀控制系統(tǒng) 1)采用廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),抗干擾能力強(qiáng),穩(wěn)定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便; 2)獨(dú)特設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結(jié)構(gòu),有效防止樣品處理過(guò)程中產(chǎn)生的雜質(zhì)對(duì)測(cè)試管路的污染. C.孔徑儀提高測(cè)試精度措施 1)采用與同類(lèi)產(chǎn)品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測(cè)量精度為相應(yīng)讀數(shù)的0.15％,遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于0.15％的全量程精度(FS)傳感器; 2)與國(guó)外同類(lèi)產(chǎn)品類(lèi)似,采用0－10Torr和0－2000Torr雙壓力傳感器,對(duì)測(cè)試范圍內(nèi)的壓力采用分段測(cè)量,大大降低了低真空下的測(cè)量誤差,0－10Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠(yuǎn)高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(jì)(一般誤差為10%-15％); 3)的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用集裝管路,顯著減少管路連接點(diǎn),大大減少死體積空間,有利于降低測(cè)量誤差; 4)的步進(jìn)式液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差; 5)獨(dú)特設(shè)計(jì)的抽氣及進(jìn)氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進(jìn)氣過(guò)程中的飛濺,確保測(cè)試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無(wú)損失,保護(hù)高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導(dǎo)致的零點(diǎn)和線(xiàn)性漂移. D.孔徑儀數(shù)據(jù)采集及處理 1)采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的485通訊模式,有利于設(shè)備擴(kuò)展和互連,可方便轉(zhuǎn)換為所需的RS232和USB通訊模式; 2)多種理論計(jì)算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶(hù)提供全方位的材料分析方案;強(qiáng)大的測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢(xún)系統(tǒng),有利于用戶(hù)數(shù)據(jù)管理.