出售一臺(tái) 日本85成新 U-4100日立雙光束紫外/可見(jiàn)/近紅外光譜儀
用于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、新型材料的光譜性能研究,是功能強(qiáng)勁的分光光度系統(tǒng)。
高性能的固體,液體,渾濁樣品測(cè)試系統(tǒng)。
透射,鏡面反射和漫反射都可測(cè)試。
使用超大樣品艙,樣品較大可至430 x 430mm,大型樣品測(cè)試也無(wú)需破壞。
紫外區(qū)較低可測(cè)至175nm。
有四種系統(tǒng)可選:
1)U4100固體樣品測(cè)量系統(tǒng)(240-2600nm)
2)U4100大樣品測(cè)量系統(tǒng)(240-2600nm)
3)U4100紫外區(qū)高靈敏度測(cè)量系統(tǒng)(175-2600nm)
4)U4100液體樣品測(cè)量系統(tǒng)(185-3300nm)
分光系統(tǒng):棱鏡-光柵
樣品尺寸:較大200 x 200mm
測(cè)定波長(zhǎng)范圍:240-2600nm
檢測(cè)器:標(biāo)準(zhǔn)積分球
入射角:20