徠卡DM12000M
產(chǎn)品簡介:徠卡半導(dǎo)體檢測顯微鏡DM12000M,可實現(xiàn)大型12寸晶圓觀察,常規(guī)金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析??膳浣覮eica攝像頭,熱臺等配件
徠卡半導(dǎo)體檢測顯微鏡DM12000M,可實現(xiàn)大型12寸晶圓觀察,常規(guī)金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析。可配接Leica攝像頭,熱臺等配件。
DM12000M智能數(shù)字式正置顯微鏡,適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒等樣品觀察分析,多種安全設(shè)計,保護(hù)晶圓,鏡頭及觀察者。
晶圓檢測顯微鏡采用模塊設(shè)計,可實現(xiàn)反射觀察、透射觀察配置
復(fù)消色差光路,整體支持25mm視野直徑
可選配UV光源,提高觀察分辨率至亞微米機構(gòu),UV由大功率LED產(chǎn)生,具有UV和OUV功能
12x12大樣品臺,可觀察晶圓,LCD等大尺寸樣品
6孔位電動物鏡轉(zhuǎn)盤,配接32mm直徑長工作距離工業(yè)物鏡
內(nèi)置電動或手動調(diào)焦系統(tǒng)
0.7x宏光物鏡,具有宏光晶圓檢查功能
徠卡金相半導(dǎo)體顯微鏡DM12000M結(jié)構(gòu)圖
產(chǎn)品特點 Infocation
四倍視野
宏觀放大功能,使您可以比傳統(tǒng)掃描物鏡多看四倍以上的視野。
人體工學(xué)設(shè)計
非常適合長時間在顯微鏡上工作,直觀操作適應(yīng)任何程度的使用者。
極限分辨率
全新的傾斜紫外模式(OUV)