名片曝光使用說明

步驟1：創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼，進入虎易名片小程序，使用微信授權(quán)登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2：投放名片

創(chuàng)建名片成功后，將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務(wù)，服務(wù)費用為：1虎幣/天。(虎幣充值比率：1虎幣=1.00人民幣)

關(guān)于曝光服務(wù)

名片曝光只限于使用免費模板的企業(yè)產(chǎn)品詳細頁下，因此當(dāng)企業(yè)使用收費模板時，曝光服務(wù)將自動失效，并停止扣除服務(wù)費。

<

返回首頁

半導(dǎo)體老化篩選設(shè)備 不僅做動態(tài)老化，還具備DUT（受測器件：Device Under Test）的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進行監(jiān)視，防止篩選漏網(wǎng)，主要試驗對象為SDRAM，SRAM等內(nèi)存類，CPU，ASIC，系統(tǒng)LSI等邏輯裝置，也對應(yīng)各種MOS形的IC。 一種半導(dǎo)體老化篩選設(shè)備和基于該設(shè)備的老化篩選方法，在設(shè)備的控制待測器件發(fā)光的功率控制電路中采用數(shù)字電位器，并通過單片機對數(shù)字電位器的自動調(diào)控，然后將結(jié)果輸入單片機和計算機，實現(xiàn)了半導(dǎo)體老化篩選過程的自動化，為工業(yè)化大批量生產(chǎn)后的篩選分級提供了基礎(chǔ)。 在老化期間,IC是在較高電氣條件下和125℃的典型溫度下經(jīng)過48/96/160或240小時等的試驗,在老化期間，試驗時限視失效機理而定.這里介紹3種老化方法：老穩(wěn)態(tài)老化（SSBI）、靜態(tài)老化（SBI）、動態(tài)老化（DBI）。由于SSBI和DBI對于復(fù)雜器件來說是無效的，因為外部偏壓和負載不可能給內(nèi)部施加足夠的壓力。DBI 可把有源信號施加到IC上，然后擴展到內(nèi)部節(jié)上，所以大規(guī)模IC通常使用動態(tài)老化 DBI 。 按產(chǎn)品的級別，老化亦可分為3類：封裝級老化（PLBI）、芯片級老化（DLBI）和晶圓級老化（WLBI）。晶圓級老化的主要好處是終產(chǎn)品的性，當(dāng)在普通老化中失效的不見必須報廢或廢棄時，在它們已經(jīng)通過許多過程步驟之后，全部產(chǎn)品費用就可能增加，因此可能有效降低成本。WLBI 的另一個優(yōu)點是高成品率和缺陷數(shù)據(jù)能快速反饋。這樣就使生產(chǎn)過程能更主動地排除故障。帕特公司同時提供晶圓級老化設(shè)備，歡迎垂詢。
產(chǎn)品推薦
“供應(yīng)半導(dǎo)體老化篩選設(shè)備”信息由發(fā)布人自行提供，其真實性、合法性由發(fā)布人負責(zé)。交易匯款需謹(jǐn)慎，請注意調(diào)查核實。