JET-300在線測試機(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測出電路板產品的各種缺點諸如 : 線路短路、斷路、缺件、錯件、零件不良或裝配不良等, 並明確地指出缺點的所在位置, 幫助使用者確保產品的品質, 並提高不良品檢修效率. 它還使用可用數(shù)億次開關的磁簧式繼電器(REED RELAY), 是當今測試涵蓋率較高, 測試穩(wěn)定, 使用方便, 提供資料齊全的在線測試機. 以下是JET-300的產品特性 　硬體規(guī)格　 REED RELAY的掃描板 JET-300的掃描板採用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了ICT 掃描板容易損壞的問題, 由於REED RELAY 的應用，使JET-300在性能上大有改善。諸如： Zener diode 測試電壓可達50v，所有測試點皆可使用。 小電容和小電感量測較準確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響。 電容極性的可偵測率較用CMOS RELAY時大為提高。 可耐高壓又有殘存電壓偵測功能，掃描板受到充分的保護。 配置功能測試的可行性較高。 Agilent TestJet Technology 美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開路難以完整偵測的問題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術以因應。本公司在取得安捷倫公司的專利授權後，已於JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測率。電腦主機板、介面卡或傳真機、數(shù)據(jù)機的機板皆可得到滿意的測試效果。其應用上的優(yōu)點如下： Agilent TestJet Technology的功能是利用量測一個銅箔板與IC腳框(Frame) 之間的電容量來偵測接腳的斷路與否。此技術無需撰寫任何程式，即可做正確而迅速的測試。 Agilent TestJet Technology可測試各種不同包裝的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (無接地者)，BGA type (OMPAC)等都可測試。 Agilent TestJet Technology也可用來偵測各種插座的接腳斷路，不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測。 寬頻而準確的相位分離量測法 對於在RC或RL並聯(lián)電路中的R.L.C. 可用相位測量法，分別量出其零件值，由於信號源頻率寬廣(100Hz到1MHz)，因此可以偵測的範圍優(yōu)於一般的ICT，像下圖線路中的零件都可以準確量測。 三端點、四端點量測 JET-300可對三端點的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等?；蛩亩它c零件如 PHOTO COUPLER，做正確的測試，如有反插或零件損壞，必可測出。TRANSISTOR的β值也可量測。 電解電容極性測試 以三端點法偵測鋁質電解電容極性反插，可測率；以測漏電流方式偵測電解電容極性反插，可測率極高。 　軟體系統(tǒng)　 JET-300擁有超越一般ICT的軟體功能，無論是在測試前的程式製作支援軟體, 或是測試後的不良資訊和資料分析，都有高水準的表現(xiàn)。在微軟中文視窗環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程式，操作容易，功能強大。 差零件(焊點)排行榜 系統(tǒng)可列印出不良數(shù)多的零件(前十名)和不良次數(shù)多的焊點( 前十點)供廠商做品質控制或製程改善的參考。 測試資料統(tǒng)計的日報表和月報表 圖表上半的長條圖用以顯示當月份每日累積OPEN/SHORT，零件不良率及整個測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明瞭地顯示當日各不良原因的百分比。 網(wǎng)路即時監(jiān)控系統(tǒng) 如果把多臺ICT連到內部網(wǎng)路系統(tǒng) ，則每一臺ICT的測試統(tǒng)計資料都可以在網(wǎng)路上的任何一臺電腦上顯示，管理者可以很方便地隨時查看生產線的狀況。 網(wǎng)路錯誤訊息查詢系統(tǒng) 只要把ICT 和檢修站都連到內部網(wǎng)路系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯誤訊息，包括：打印機的印出訊息和錯誤圖形顯示。 待測板圖形顯示功能 可在待測板不良發(fā)生時，明白顯示不良零件或焊點的位置，亦可在零件位置查詢時顯示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時間和程式調適的時間。如果廠內有網(wǎng)路連線系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的螢幕上顯示出來。