ULTRAPOL advance樣品制備拋磨機(jī)
新一代的為顯微鏡或SEM等高科技微細(xì)觀察進(jìn)行樣品制備的研磨機(jī).它將先進(jìn)的精密控制和簡(jiǎn)便操作融于一身,為現(xiàn)代的IC等產(chǎn)品樣品制備提供了一個(gè)良好的解決方案和系統(tǒng).
設(shè)備主要特點(diǎn):
頂部方便快捷的光學(xué)對(duì)準(zhǔn)裝置,比其他的和以往的此類機(jī)器有了很大的性能提高.
各種封裝 DIE 的截面拋(Cross-sectioning of die) 都可適用.
各種封裝形式和硅片等背面樣品制備都可適用.
SEM Stub Holder 和其他的夾具,很方便地使用.
可以重復(fù)使用些研磨液和冷卻劑.
對(duì)于比較難的研磨 (such as the back-thinning of larger flip chips), 設(shè)備提供另外的‘Power polish' mode選件.